Messsysteme für die Materialprüfung

IMS hat sich seit der Firmengründung 1980 als international führender Hersteller von Röntgen-, Isotopen- und optischen Messsystemen zur Materialprüfung etabliert. Weltweit werden die Messsysteme von der Stahl- und Nichteisenmetallindustrie heute eingesetzt.

 

Auf die Anforderungen des Marktes nach präzise arbeitenden und zuverlässigen Systemen zur Materialprüfung stellt sich

das Unternehmen mit einem breit gefächerten, innovativen Produktportfolio ein. Dabei werden Komplettlösungen aus einer Hand geliefert. Die Kunden profitieren vom reibungslosen Zusammenspiel der selbst produzierten, bis ins Detail perfektionierten Messsysteme, die für den kompletten Prozessablauf zusammengestellt werden. So reduziert sich die Anzahl der Systeme verschiedener Hersteller in der Produktion und erhöht damit die Effizienz und Zuverlässigkeit.

Für optische Messsysteme verwendet die IMS Messsysteme GmbH einzigartige, patentierte Camera-Cluster-Systeme (CCS). Sie bestehen aus einer Anzahl von schnellen, intelligenten und dennoch kostengünstigen Kameras, die in Gruppen dicht nebeneinander angeordnet sind - die Cluster. Durch das Aneinanderreihen mehrerer Cluster-Module können Folien, Bänder und Platten beliebiger Breite vermessen werden. Die innovative Technologie macht die Cluster für eine Vielzahl von Messaufgaben in der Stahl-, Aluminium- und NE-Metallindustrie interessant.

Für hochgenaue Breitenmessungen verwendet IMS Camera Cluster Systems. Mit einem Software-Add-On kann das System um einen Kantenriss- und / oder Lochdetektor erweitert werden. Informationen über Defekte sind extrem nicht nur für die Qualitätssicherung extrem wichtig, sondern auch um Bandrisse zu vermeiden. Aufgrund der hohen Auflösung und des steilen Sichtwinkels ist die Technologie erstmals auch für die Inline-Messung der Streifenbreite in Spaltanlagen wirtschaftlich einsetzbar.

 

Speziell für Verpackungsmaterialien aus Aluminium und Weißblech eignen sich Camera-Cluster-Systeme zur Detektion von Pinholes (Feinstlöcher) ab einer Größe von wenigen Mikrometern.

 

Überall dort, wo Planheit und Ebenheit gemessen werden müssen, kommt die Camera-Cluster-Technologie in Kombination mit Laserlinienprojektion (Laser-Triangulationsprinzip) zum Einsatz. In Querteilanlagen ist diese Technologie für Tafel-/Plattengeometrie wie Länge, Breite, Rechtwinkligkeit, Diagonalen und Säbel anwendbar. IMS nutzt die neue Technologie auch zur Oberflächeninspektion.

 

Quelle und Grafik: IMS Messsysteme GmbH